Grundlagen der Patentstatistik
- Beginn:
- 21. Jun 2023, 09:00
- Ende:
- 21. Jun 2023, 16:30
- Anmeldeschluss:
- 18. Jun 2023, 09:00
- zuletzt aktualisiert:
- 5. Jan 2023
- Kurs-Nr.:
- S-23-06
- Preis:
- 350,00 EUR
- Ort:
- PATON, Raum 4251/ 4260
- Diesen Kurs buchen
- Level:
- Fortgeschrittene
- Trainer:
Beschreibung
Ziel
Grundlegende Kenntnisse über Möglichkeiten und Zielstellungen von Fachgebiets-, Firmen-, Erfinder- und Zitierungsanalysen.
Zielgruppe
Personen aus Marketing, Wissenschaft und Technik, Patentfachleute, die sich aus der Patent- und Fachinformation aussagekräftige Fakten und Hinweise erarbeiten wollen.
Voraussetzung
Grundkenntnisse zum Patentwesen.
Inhalt
- Kerninformation als Analyseziel
- Anforderungen an Patentanalysen aus unternehmerischer Sicht
- Anforderungen an die Dokumentenbasis für Patentanalysen
- Indikatoren zur Nutzung in Patentanalysen
- Patentindikatoren als Bewertungsgrößen
- Zeitabhängigkeit und Austauschbarkeit
- Durchführung von Patentanalysen
- Kostenreduzierte Analysen
- Visualisierung von Statistikergebnissen mit Excel
- Vorstellen von Analyse-Tools