Beginn:
21. Juni 2023, 09:00
Ende:
21. Juni 2023, 16:30
Anmelde​schluss:
7. Juni 2023, 09:00
Kurs-Nr.:
S-23-06
Preis:
350,00 EUR
Ort:
PATON / Raum 4261
Feld 1:
- Ziele und Möglichkeiten von Patentanalysen
Feld 2:
- Anforderungen an die Dokumentenbasis für Patentanalysen
Feld 3:
- Vorstellung verschiedener Indikatoren
Feld 4:
- Möglichkeiten verschiedener Patentanalystools
Feld 5:
- Interpretation von Analyseergebnissen
Plätze:
16
16
Trainer:
Adam Bartkowski

Beschreibung

Ziel

Grundlegende Kenntnisse über Möglichkeiten und Zielstellungen von Fachgebiets-, Firmen-, Erfinder- und Zitierungsanalysen.

Zielgruppe

Personen aus Marketing, Wissenschaft und Technik, Patentfachleute, die sich aus der Patent- und Fachinformation aussagekräftige Fakten und Hinweise erarbeiten wollen.

Voraussetzung

Grundkenntnisse zum Patentwesen.

Inhalt

  • Kerninformation als Analyseziel
  • Anforderungen an Patentanalysen aus unternehmerischer Sicht
  • Anforderungen an die Dokumentenbasis für Patentanalysen
  • Indikatoren zur Nutzung in Patentanalysen
  • Patentindikatoren als Bewertungsgrößen
  • Zeitabhängigkeit und Austauschbarkeit
  • Durchführung von Patentanalysen
  • Kostenreduzierte Analysen
  • Visualisierung von Statistikergebnissen mit Excel
  • Vorstellen von Analyse-Tools

 

 

 

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