Beginn:
5. Apr. 2022, 09:00
Ende:
5. Apr. 2022, 16:30
Anmelde​schluss:
22. März 2022, 08:00
Kurs-Nr.:
S-22-06
Preis:
350,00
Ort:
WEBEX
Feld 1:
- Ziele und Möglichkeiten von Patentanalysen
Feld 2:
- Anforderungen an die Dokumentenbasis für Patentanalysen
Feld 3:
- Vorstellung verschiedener Indikatoren
Feld 4:
- Möglichkeiten verschiedener Patentanalystools
Feld 5:
- Interpretation von Analyseergebnissen
Plätze:
16
16
Trainer:
Adam Bartkowski

Beschreibung

Ablauf

Die Seminarinhalte werden per WEBEX vermittelt. Die Teilnehmer haben während und nach dem Seminar Gelegenheit Fragen zu stellen.

Ziel

Grundlegende Kenntnisse über Möglichkeiten und Zielstellungen von Fachgebiets-, Firmen-, Erfinder- und Zitierungsanalysen.

Zielgruppe

Personen aus Marketing, Wissenschaft und Technik, Patentfachleute, die sich aus der Patent- und Fachinformation aussagekräftige Fakten und Hinweise erarbeiten wollen.

Voraussetzung

Grundkenntnisse zum Patentwesen.

Inhalt

  • Kerninformation als Analyseziel
  • Anforderungen an Patentanalysen aus unternehmerischer Sicht
  • Anforderungen an die Dokumentenbasis für Patentanalysen
  • Indikatoren zur Nutzung in Patentanalysen
  • Patentindikatoren als Bewertungsgrößen
  • Zeitabhängigkeit und Austauschbarkeit
  • Durchführung von Patentanalysen
  • Kostenreduzierte Analysen
  • Visualisierung von Statistikergebnissen mit Excel
  • Vorstellen von Analyse-Tools

 

 

 

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