Adam Bartkowski




Institution

PATON | Landespatentzentrum Thüringen


KurstitelBeginnPlätzeOrtAnmelde​schluss
Grundlagen der Patentstatistikkeine Angabe
16PATON, Raum 4260 (SR1)keine AngabeAbgesagt
Grundlagen der Patentstatistik (Online-Seminar)11. Mai 2020, 11:00
16Webinar (WEBEX)7. Mai 2020, 11:00Anmelde​schluss überschritten
Grundlagen der Patentstatistik (Online-Seminar)14. Apr 2021, 09:00
16WEBEX12. Apr 2021, 09:00