Beginn:
25. Juni 2025, 13:30
Ende:
7. Juli 2025, 00:00
Anmelde​schluss:
24. Juni 2025, 13:30
Kurs-Nr.:
25-R5
Preis:
270,00 EUR
Ort:
WEBEX
Feld 1:
- Grundlagen und Grenzen der Patentstatistik
Feld 2:
- Datenbankübersicht
Feld 3:
- Geeignete Parameter für verschiedene Fragestellungen
Feld 4:
- grafische Darstellungsmöglichkeiten statistischer Auswertungen in PATBASEanalytics
Feld 5:
- Planung von Anlalyseprojekten

Beschreibung

Inhalt

Der Praxisworkshop geht auf die Auswahl geeigneter Datenbankfelder für verschiedene Analyseaufgaben ein. Darüber hinaus werden geeignete Darstellungsweisen der statistischen Auswertungen aufgezeigt sowie deren Interpretationsmöglichkeiten (Chancen und Grenzen) diskutiert. Durch praxisorientierte Übungen mit dem Recherchesystem PATBASE-Analytics lernen die Teilnehmer, wie sie Patentdaten effektiv analysieren und nutzen können, um fundierte Entscheidungen zu unterstützen.

Ablauf

Die Seminarinhalte werden per WEBEX vermittelt und in den Seminarunterlagen umfangreich dargestellt. Die individuelle Bearbeitung der Übungsaufgaben bietet die Möglichkeiten das Wissen praktisch anzuwenden. Das Feedback auf die eingereichten Lösungen vertieft das Wissen.

25.06.2025 13:45-16:15 Erstellung von Patentstatistiken und deren Interpretationsmöglichkeiten
 

Individuelle Bearbeitung von Übungsaufgaben (1-3h)

Einreichung für Feedback bis 03.07.2025

07.07.2025

13:00-14:00  Q/A Übungsaufgaben: Vergleich, Präsentation, Diskussion

 

Zielgruppe

Personen aus Wissenschaft und Technik, Patentfachleute, Patentrechercheure

Voraussetzung

Kenntnisse zum Patentwesen, Kenntnisse zur Patentrecherche

 

 

 

Diesen Kurs buchen

Bitte erst einloggen.

Kategorien

Tags

Logo PATON © 2024 PATONakademie Seminarverwaltung
Impressum
Logo TU Ilmenau