Grundlagen der Patentstatistik
- Beginn:
- 21. Juni 2023, 09:00
- Ende:
- 21. Juni 2023, 16:30
- Anmeldeschluss:
- 7. Juni 2023, 09:00
- Kurs-Nr.:
- S-23-06
- Preis:
- 350,00 EUR
- Ort:
- PATON / Raum 4261
- Feld 1:
- - Ziele und Möglichkeiten von Patentanalysen
- Feld 2:
- - Anforderungen an die Dokumentenbasis für Patentanalysen
- Feld 3:
- - Vorstellung verschiedener Indikatoren
- Feld 4:
- - Möglichkeiten verschiedener Patentanalystools
- Feld 5:
- - Interpretation von Analyseergebnissen
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- Plätze:
- 16
- Trainer:
- Adam Bartkowski
Beschreibung
Ziel
Grundlegende Kenntnisse über Möglichkeiten und Zielstellungen von Fachgebiets-, Firmen-, Erfinder- und Zitierungsanalysen.
Zielgruppe
Personen aus Marketing, Wissenschaft und Technik, Patentfachleute, die sich aus der Patent- und Fachinformation aussagekräftige Fakten und Hinweise erarbeiten wollen.
Voraussetzung
Grundkenntnisse zum Patentwesen.
Inhalt
- Kerninformation als Analyseziel
- Anforderungen an Patentanalysen aus unternehmerischer Sicht
- Anforderungen an die Dokumentenbasis für Patentanalysen
- Indikatoren zur Nutzung in Patentanalysen
- Patentindikatoren als Bewertungsgrößen
- Zeitabhängigkeit und Austauschbarkeit
- Durchführung von Patentanalysen
- Kostenreduzierte Analysen
- Visualisierung von Statistikergebnissen mit Excel
- Vorstellen von Analyse-Tools
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