Grundlagen der Patentstatistik (Online-Seminar)
- Beginn:
- 27. Mai 2027, 09:00
- Ende:
- 27. Mai 2027, 12:30
- Anmeldeschluss:
- 17. Mai 2027, 09:00
- Kurs-Nr.:
- 27-06-HT
- Preis:
- 225,00 EUR
- Ort:
- WEBEX
- Feld 1:
- - Ziele und Möglichkeiten von Patentanalysen
- Feld 2:
- - Anforderungen an die Dokumentenbasis für Patentanalysen
- Feld 3:
- - Vorstellung verschiedener Indikatoren
- Feld 4:
- - Möglichkeiten verschiedener Patentanalystools
- Feld 5:
- - Interpretation von Analyseergebnissen
- Diesen Kurs buchen
- Plätze:
- 16
- Referent:
- Adam Bartkowski
Beschreibung
Ziel
Grundlegende Kenntnisse über Möglichkeiten und Zielstellungen von Fachgebiets-, Firmen-, Erfinder- und Zitierungsanalysen.
Zielgruppe
Personen aus Marketing, Wissenschaft und Technik, Patentfachleute, die sich aus der Patent- und Fachinformation aussagekräftige Fakten und Hinweise erarbeiten wollen.
Voraussetzung
Grundkenntnisse zum Patentwesen.
Inhalt
- Daten und Datenfelder für Patentstatistiken
- Patentindikatoren (Auswahl)
- Patentstatistiken in kostenfreien Online-Systemen
- Visualisierung von Statistikergebnissen mit Excel und Power BI
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