Grundlagen der Patentstatistik (Online-Seminar)
- Beginn:
- 5. Apr. 2022, 09:00
- Ende:
- 5. Apr. 2022, 16:30
- Anmeldeschluss:
- 22. März 2022, 08:00
- Kurs-Nr.:
- S-22-06
- Preis:
- 350,00
- Ort:
- WEBEX
- Feld 1:
- - Ziele und Möglichkeiten von Patentanalysen
- Feld 2:
- - Anforderungen an die Dokumentenbasis für Patentanalysen
- Feld 3:
- - Vorstellung verschiedener Indikatoren
- Feld 4:
- - Möglichkeiten verschiedener Patentanalystools
- Feld 5:
- - Interpretation von Analyseergebnissen
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- Plätze:
- 16
- Trainer:
- Adam Bartkowski
Beschreibung
Ablauf
Die Seminarinhalte werden per WEBEX vermittelt. Die Teilnehmer haben während und nach dem Seminar Gelegenheit Fragen zu stellen.
Ziel
Grundlegende Kenntnisse über Möglichkeiten und Zielstellungen von Fachgebiets-, Firmen-, Erfinder- und Zitierungsanalysen.
Zielgruppe
Personen aus Marketing, Wissenschaft und Technik, Patentfachleute, die sich aus der Patent- und Fachinformation aussagekräftige Fakten und Hinweise erarbeiten wollen.
Voraussetzung
Grundkenntnisse zum Patentwesen.
Inhalt
- Kerninformation als Analyseziel
- Anforderungen an Patentanalysen aus unternehmerischer Sicht
- Anforderungen an die Dokumentenbasis für Patentanalysen
- Indikatoren zur Nutzung in Patentanalysen
- Patentindikatoren als Bewertungsgrößen
- Zeitabhängigkeit und Austauschbarkeit
- Durchführung von Patentanalysen
- Kostenreduzierte Analysen
- Visualisierung von Statistikergebnissen mit Excel
- Vorstellen von Analyse-Tools
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