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Sommersemester 2020

Grundlagen der Patentstatistik

Start Date:
Apr 22, 2020, 09:00
Finish date:
Apr 22, 2020, 16:30
Booking deadline:
Apr 15, 2020, 09:00
Last Revised:
Dec 17, 2019
Code:
S-20-04
Price:
300.00 EUR
Location:
PATON, Raum 4260 (SR1)
Book the course
Level:
Fortgeschrittene
Available seats:
13 of 16
Tutor:

Description

Ziel

Grundlegende Kenntnisse über Möglichkeiten und Zielstellungen von Fachgebiets-, Firmen-, Erfinder- und Zitierungsanalysen.

Zielgruppe

Personen aus Marketing, Wissenschaft und Technik, Patentfachleute, die sich aus der Patent- und Fachinformation aussagekräftige Fakten und Hinweise erarbeiten wollen.

Voraussetzung

Grundkenntnisse zum Patentwesen.

Inhalt

  • Kerninformation als Analyseziel
  • Anforderungen an Patentanalysen aus unternehmerischer Sicht
  • Anforderungen an die Dokumentenbasis für Patentanalysen
  • Indikatoren zur Nutzung in Patentanalysen
  • Patentindikatoren als Bewertungsgrößen
  • Zeitabhängigkeit und Austauschbarkeit
  • Durchführung von Patentanalysen
  • Kostenreduzierte Analysen
  • Visualisierung von Statistikergebnissen mit Excel
  • Vorstellen von Analyse-Tools

 


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Kontakt:

  Frau Heike Schwanbeck
  Leitung, Beratung

  Leibnizbau | Raum 4240
  Telefon: +49 3677 69 4591
  E-Mail senden »  

 

  Frau Bettina Schmidt
  Organisation

  Leibnizbau | Raum 4200
  Telefon: +49 3677 69 4595
  E-Mail senden »