Sommersemester 2021
Grundlagen der Patentstatistik (Online-Seminar)
- Beginn:
- 14. Apr 2021, 09:00
- Ende:
- 14. Apr 2021, 16:30
- Anmeldeschluss:
- 12. Apr 2021, 09:00
- zuletzt aktualisiert:
- 14. Jan 2021
- Kurs-Nr.:
- S-21-06
- Preis:
- 350,00 EUR
- Ort:
- WEBEX
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- Level:
- Fortgeschrittene
- Freie Plätze:
- 16 von 16
- Trainer:
Beschreibung
Ablauf
Die Seminarinhalte werden per WEBEX vermittelt. Die Teilnehmer haben während und nach dem Seminar Gelegenheit Fragen zu stellen.
Ziel
Grundlegende Kenntnisse über Möglichkeiten und Zielstellungen von Fachgebiets-, Firmen-, Erfinder- und Zitierungsanalysen.
Zielgruppe
Personen aus Marketing, Wissenschaft und Technik, Patentfachleute, die sich aus der Patent- und Fachinformation aussagekräftige Fakten und Hinweise erarbeiten wollen.
Voraussetzung
Grundkenntnisse zum Patentwesen.
Inhalt
- Kerninformation als Analyseziel
- Anforderungen an Patentanalysen aus unternehmerischer Sicht
- Anforderungen an die Dokumentenbasis für Patentanalysen
- Indikatoren zur Nutzung in Patentanalysen
- Patentindikatoren als Bewertungsgrößen
- Zeitabhängigkeit und Austauschbarkeit
- Durchführung von Patentanalysen
- Kostenreduzierte Analysen
- Visualisierung von Statistikergebnissen mit Excel
- Vorstellen von Analyse-Tools
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Kontakt:
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Frau Heike Schwanbeck Leibnizbau | Raum 4240 |
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Frau Bettina Schmidt Leibnizbau | Raum 4200 |