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Sommersemester 2020, Termine werden im Dezember 2019 bekanntgegeben

Grundlagen der Patentstatistik

Beginn:
keine Angabe
Ende:
keine Angabe
Anmelde​schluss:
keine Angabe
zuletzt aktualisiert:
1. Aug 2019
Kurs-Nr.:
S-20-04
Preis:
300,00 EUR
Ort:
PATON, Raum 4260 (SR1)
Level:
Anfänger
Freie Plätze:
16 von 16
Trainer:
Herr Adam Bartkowski

Beschreibung

Ziel

Grundlegende Kenntnisse über Möglichkeiten und Zielstellungen von Fachgebiets-, Firmen-, Erfinder- und Zitierungsanalysen.

Zielgruppe

Personen aus Marketing, Wissenschaft und Technik, Patentfachleute, die sich aus der Patent- und Fachinformation aussagekräftige Fakten und Hinweise erarbeiten wollen.

Voraussetzung

Grundkenntnisse zum Patentwesen.

Inhalt

  • Kerninformation als Analyseziel
  • Anforderungen an Patentanalysen aus unternehmerischer Sicht
  • Anforderungen an die Dokumentenbasis für Patentanalysen
  • Indikatoren zur Nutzung in Patentanalysen
  • Patentindikatoren als Bewertungsgrößen
  • Zeitabhängigkeit und Austauschbarkeit
  • Durchführung von Patentanalysen
  • Kostenreduzierte Analysen
  • Visualisierung von Statistikergebnissen mit Excel
  • Vorstellen von Analyse-Tools

 


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Kontakt:

  Frau Heike Schwanbeck
  Leitung, Beratung

  Leibnizbau | Raum 4240
  Telefon: +49 3677 69 4591
  E-Mail senden »  

 

  Frau Bettina Schmidt
  Organisation

  Leibnizbau | Raum 4200
  Telefon: +49 3677 69 4595
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